IMIS

Publicaties | Instituten | Personen | Datasets | Projecten | Kaarten
[ meld een fout in dit record ]mandje (0): toevoegen | toon Print deze pagina
Electron probe X-ray microanalysis for the assessment of homogeneity of candidate reference materials at the nanogram level
Hoornaert, S.; Treiger, B.; Valkovic, V.; Van Grieken, R. (1998). Electron probe X-ray microanalysis for the assessment of homogeneity of candidate reference materials at the nanogram level. Microchim. Acta 128: 207-213
In: Microchimica Acta. Springer Verlag: Wien; New York. ISSN 0026-3672; e-ISSN 1436-5073, meer
Peer reviewed article  
Beschikbaar in  Auteurs 
Auteurs  Top 
  • Hoornaert, S.
  • Treiger, B.
  • Valkovic, V.
  • Van Grieken, R., meer
Alle informatie in het Integrated Marine Information System (IMIS) valt onder het VLIZ Privacy beleid Top | Auteurs